IEC60884 σχήμα 27 εξοπλισμός δοκιμής IEC για τον αντίκτυπο χαμηλής θερμοκρασίας

IEC60884 σχήμα 27 εξοπλισμός δοκιμής IEC για τον αντίκτυπο χαμηλής θερμοκρασίας

IEC60884 σχήμα 27 εξοπλισμός δοκιμής αντίκτυπου χαμηλής θερμοκρασίας

Σχήμα 27 εξοπλισμού IEC60884 δοκιμής αντίκτυπου πίεσης χαμηλής θερμοκρασίας

Πληροφορίες προϊόντων:

Τα δείγματα υποβάλλονται σε μια δοκιμή αντίκτυπου με τη βοήθεια μιας συσκευής όπως φαίνεται στο σχήμα 27.
Η συσκευή, που τοποθετείται σε ένα μαξιλάρι του λάστιχου σφουγγαριών 40 χιλ. παχιού, τοποθετείται μαζί με τα δείγματα σε έναν ψυκτήρα σε μια θερμοκρασία (– 15 ± 2) °C, για τουλάχιστον 16 χ.
Στο τέλος αυτής της περιόδου, κάθε δείγμα, με τη σειρά, τοποθετείται στην κανονική θέση της χρήσης όπως φαίνεται στο σχήμα 27, και ένα βάρος επιτρέπεται για να μειωθεί από ένα ύψος 100 χιλ. Η μάζα του μειωμένου βάρους είναι (1 000 ± 2) γ.
Μετά από τη δοκιμή, το δείγμα δεν θα παρουσιάσει καμία ζημία κατά την έννοια αυτών των προτύπων.

Τεχνικές παράμετροι:

Το ύψος της πτώσης: 10~250mm είναι διευθετήσιμο.

Για τα δείγματα της τοποθέτησης του καλωδίου, το βάρος του σφυριού πτώσης που απαιτείται είναι το ακόλουθο:

Για τα δείγματα του εύκαμπτου καλωδίου και του καλωδίου τηλεπικοινωνιών, το βάρος του σφυριού πτώσης που απαιτείται είναι το ακόλουθο: